測(cè)試周期3~5個(gè)工作日
測(cè)試設(shè)備三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量?jī)x
檢測(cè)樣品范圍金屬加工件、塑料件等
設(shè)備品牌??怂箍?/span>
平臺(tái)(工作臺(tái))花崗巖
四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè),報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
形位公差檢測(cè)
零件結(jié)構(gòu)的幾何形狀和相對(duì)位置是由形狀公差和位置公差來(lái)保證。對(duì)某些精度要求較高的零件,不僅需要保證其尺寸公差,而且還要保證其形位公差。
形位公差可為分為形狀公差和位置公差。
形狀公差包括直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度、面輪廓度。
位置公差包括
定向公差(平行度、垂直度、傾斜度)
定位公差(同軸度、對(duì)稱度、位置度)
跳動(dòng)公差(圓跳動(dòng)、全跳動(dòng))
服務(wù)項(xiàng)目:
FAI(產(chǎn)品件檢驗(yàn))
TVR(模具驗(yàn)證)
CpK (制程能力驗(yàn)證及分析)
GR&R (量測(cè)能力驗(yàn)證及分析)
普通尺寸檢測(cè)
形位公差檢測(cè)
微觀尺寸是一般是指用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及影像測(cè)量機(jī)等高精度測(cè)量?jī)x器也無(wú)法量測(cè)尺寸,通常指2μm以下 的尺寸。而隨著現(xiàn)代制造工藝和產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平的不斷提高,多維曲面的頻繁使用,使得逆向測(cè)繪變得十分困難。
采用三維掃描儀能夠快速地獲得掃描物體的點(diǎn)云數(shù)據(jù),通過(guò)的運(yùn)用后期軟件,就能準(zhǔn)確地獲得掃描物體的三維實(shí)體數(shù)據(jù)。表面粗糙度是指零件表面上具有較小間距和微小峰谷所形成的微觀幾何形狀誤差。是零件表面評(píng)定的重要技術(shù)指標(biāo)之一。表面粗糙度是衡量已加工表面質(zhì)量的重要標(biāo)志之一,它對(duì)零件的耐磨性、耐腐蝕性、疲勞強(qiáng)度和配合性質(zhì)都有很大影響。影像測(cè)量機(jī)通過(guò)鐳射的探照,可輕松測(cè)量樣品的小孔直徑、樣品輪廓等較為復(fù)雜的尺寸。
主要服務(wù)項(xiàng)目:
表面粗糙度測(cè)量(Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數(shù));
波紋度檢測(cè);
機(jī)械加工、表面處理等制程;
輪廓尺寸測(cè)量、輪廓尺寸驗(yàn)證;
表面失效/缺陷尺寸分析(劃痕、白點(diǎn)、表面霧化等);
微觀尺寸測(cè)量(長(zhǎng)寬高、半徑、面積、體積等);
透明/半透明膜厚測(cè)試;
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描;
非常規(guī)尺寸測(cè)量(微小部件圓角半徑、倒角塌邊等);
粉末顆粒粒徑測(cè)量;
產(chǎn)品加工刀紋尺寸測(cè)量等。
我們的優(yōu)勢(shì):
的設(shè)備:清一色國(guó)外進(jìn)口的高精度尺寸檢測(cè)設(shè)備;
豐富的經(jīng)驗(yàn)和大地測(cè)試容量
快速的測(cè)試周期:一般3工作日出具報(bào)告;
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